聚酰亞胺是一種優異的電氣絕緣材料，有良好的高低溫耐受特性，耐受輻（fú）照、電暈，抗老化特性好，因此廣泛地應用於航空航（háng）天（tiān）領（lǐng）域。目前，地麵環（huán）境中的介質（zhì）閃絡研究著重於絕緣子閃絡，研究不同電極形狀（zhuàng）、電壓類型、不同（tóng）氣體環境等條件下的閃絡特性，針對航天器表麵（miàn）的聚酰亞（yà）胺材料閃絡的公開研究成果較（jiào）少。在（zài）已有文獻中，基於二次電（diàn）子（zǐ）發射雪崩（ Secondary Electron Emission Avalanche, SEEA）模型研究了氣體解吸（xī）附、改性（xìng）以（yǐ）及電（diàn）子輻照等因（yīn）素對閃絡的影響機製，但是對於ZnO改（gǎi）性對閃絡影響（xiǎng）的機理（lǐ）解釋較少，對影響材料閃絡特性最重要的表麵狀態沒有深入的研究。

  含有微米ZnO 的複合試樣深陷阱密度要大於納米改性聚酰亞胺，但其耐（nài）閃絡電壓特性（xìng）低於納米改性聚酰亞（yà）胺。這是（shì）因為微米顆粒體積較大，與基體聚酰（xiān）亞胺樹脂結合時（shí）在界麵（miàn）處易產生宏觀性缺陷，容易引發薄弱區域的局部放電；再考慮到（dào）改性劑分散的不均勻性更容易導致顆粒附近電場（chǎng）強度產生畸變，容易導致材料的局部放電使得閃絡（luò）電（diàn）壓降低。

  基於真空沿麵閃絡測試係統（tǒng），重點研究了純聚酰亞胺、ZnO 改性聚酰（xiān）亞胺以及表麵氟化聚酰亞胺試樣的直流閃絡特性。以二次電子雪崩模型為基礎，揭（jiē）示了材料表麵穩定性（xìng）對閃絡發展的影響與抑製真空下聚（jù）酰亞胺直流沿麵閃絡特性的（de）方法。

1）微米與（yǔ）納米（mǐ）改性整體提高了聚酰亞胺複合材料沿麵閃絡電壓，並且3wt%改性樣品閃絡電壓提升**。聚酰亞胺基體樹脂添加ZnO 粒子後，增強了材料（liào）內陷阱對電荷移動的限製作用，同時抑（yì）製了氣體（tǐ）解吸附和脫氣量、降低了二（èr）次電子（zǐ）發射係數，因而整體上提高了材料表麵穩定性（xìng），閃（shǎn）絡電壓隨之上升。

2）表麵氟化顯著地提高了聚酰亞胺沿（yán）麵閃絡電壓。氟（fú）化後能極大抑製閃絡中二（èr）次電子發展，表麵氟化層較高的電負性是氟化聚酰亞胺閃絡電壓上升的關鍵。

3）ZnO 改性（xìng）和氟化改性都會降（jiàng）低（dī）材料電荷的（de）積累，提高材料（liào）表麵穩定性，從（cóng）而提高（gāo）閃絡電壓（yā）。